果果儀器為美國華盛頓州公立大學(xué)（University of Washington）交付外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)，實(shí)現(xiàn)變溫電學(xué)測試。

典型應(yīng)用場景：

1、半導(dǎo)體器件在低溫/高溫下的電學(xué)特性微區(qū)測試

2、材料相變點(diǎn)附近的局部電導(dǎo)/熱導(dǎo)測量

3、納米材料、低維材料在變溫條件下的物性表征

產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍：-190℃~400℃

溫度穩(wěn)定性：±0.1℃

探針：同軸探針*4

探針位移行程：±6mm

探針接口：三同軸BNC

腔室：真空